日本信頼性学会　若手奨励賞

　受賞者：　　呉　研

　受賞日：　　2016年5月23日

　タイトル：　Tunnel FET構造による放射線照射誘起寄生バイポーラ効果低減

 

日本信頼性学会　優秀賞

　受賞者：　　小倉俊太，高橋芳浩，他４名

　受賞日：　　2013年6月12日

　タイトル：　SOIデバイスのソフトエラー耐性強化に関する検討

 

Best Poster Award

　（The 10th International Workshop on Radiation Effects on

   　Semiconductor Device for Space Applications)

　受賞者：　　小倉俊太，小宮山隆洋，高橋芳浩，他４名

　受賞日：　　2012年12月12日

　タイトル：　Suppression of Heavy-Ion induced Current in SOI Device

 

日本大学理工学部　学術賞

　受賞者：　　高橋芳浩

　受賞日：　　2011年11月5日

　タイトル：　宇宙用半導体デバイス開発に関する基礎研究